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rx solutions丨納米級(jí)工業(yè)ct作為成像技術(shù)領(lǐng)域具有發(fā)展前景的技術(shù)之一 |
發(fā)布者:無錫瑞埃德檢測(cè)科技有限公司 點(diǎn)擊:4785 發(fā)布時(shí)間:2024-12-09 |
x射線納米斷層掃描是建立在現(xiàn)有微米級(jí)工業(yè)ct技術(shù)的基礎(chǔ)之上,將渲染三維圖像的分辨率提高到亞微米級(jí)別,而分辨率的提高能幫助客戶更清晰地看到零部件的內(nèi)部缺陷。我們將其稱為“納米級(jí)工業(yè)ct”,“納米”一詞用來表示掃描獲得的截面上最小的像素尺寸在納米范圍內(nèi)。 如大家所知,x射線斷層掃描技術(shù)是一種無損檢測(cè)技術(shù),在許多行業(yè)中被用作檢查零件內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)。在過去的十年中,納米級(jí)別的工業(yè)ct得到了巨大的技術(shù)改進(jìn),現(xiàn)在能夠提供更好的成像效果。 要做到納米級(jí)別的掃描效果,設(shè)備通常要求非常小的樣件掃描尺寸,但是目前的技術(shù)對(duì)于樣件的制備基本沒有要求,這就意味著任何樣件只要尺寸控制到位,都可以通過掃描獲取整個(gè)的三維模型,這樣的話就大大節(jié)省了樣件制備的時(shí)間,幫助客戶優(yōu)化了成本。 同時(shí)根據(jù)應(yīng)用情況,納米級(jí)工業(yè)ct中的射線源焦點(diǎn)尺寸可小于400納米,結(jié)合功能強(qiáng)大的探測(cè)器(如ccd攝像頭),設(shè)備可實(shí)現(xiàn)高達(dá)400納米的真實(shí)分辨率,性能大大超過傳統(tǒng)的微米級(jí)工業(yè)ct系統(tǒng)。射線源焦點(diǎn)的尺寸大小是微米級(jí)工業(yè)ct和納米級(jí)工業(yè)ct之間的關(guān)鍵區(qū)別,焦點(diǎn)尺寸越小,整個(gè)系統(tǒng)的細(xì)節(jié)識(shí)別能力就越強(qiáng)。 如圖所示為納米級(jí)ct 在復(fù)合材料上應(yīng)用案例 分辨率為0.7μm 與傳統(tǒng)的微米級(jí)工業(yè)ct一樣, 目前,無錫瑞埃德檢測(cè)有幸成為工業(yè)ct領(lǐng)跑企業(yè)――法國rx solutions 中國區(qū)市場(chǎng)拓展伙伴,將努力為大家提供最好的服務(wù)和產(chǎn)品,助力中國產(chǎn)業(yè)提升。 本公司主營項(xiàng)目:測(cè)量儀器,軸類測(cè)量儀,光學(xué)軸類測(cè)量儀,vicivision,工業(yè)ct,無損檢測(cè),3d掃描,光學(xué)三坐標(biāo),x射線三維成像 |
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